简介

YSC-4076 一维光强分布传感器是一款专为光强线性分布测量设计的精密设备，配备高分辨率阵列式探测器，测量精度高，可精准捕捉光强在单一方向上的动态变化。配合专业光学分析软件，可满足激光光斑分析、光学器件检测等高精度测量需求。紧凑型设计，标配水平调节块，安装灵活，适用于实验室、工业质检及科研场景。

特点

• 超高分辨率与精度

  采用高分辨率阵列式探测器，覆盖宽幅光强分布范围，细节捕捉无遗漏。

  极高的测量精度，精准定位光强峰值与分布趋势。

• 即插即用，高效传输

  USB即插即用，支持实时数据传输与快速分析。

  标配水平调节块，轻松校准设备位置，确保测量稳定性。

• 紧凑便携设计

  体积小巧，轻量化结构，适配狭小空间部署。

  铝合金外壳，抗干扰性强，适应复杂光学实验环境。

• 多功能兼容性

  配合专业光学分析软件，一键生成光强分布曲线与数据报告。

应用

• 科研与教学

  光学实验教学、光栅衍射实验数据采集与分析。

• 激光光斑分析

  测量激光束横向光强分布。

• 光学器件检测

  透镜、棱镜透射/反射光强分布测试，验证器件均匀性。

• 显示屏均匀性校准

  检测LED屏幕或背光模组的光强线性分布，提升显示效果。

• 工业质检

  光纤、光缆端面光强分布检测，确保产品一致性。